當(dāng)前所在的位置：首頁(yè) · 產(chǎn)品中心 · 電性測(cè)試 · 面板顯示探針臺(tái)
產(chǎn)品介紹：
面板多腔室探針臺(tái)，適用于1~20inch TFT- LCD,Mini/Micro LED等顯示面板可靠性電性檢測(cè)，集合溫度 、光源 、顯微鏡 、探針等多種系統(tǒng)為待測(cè)面板提供各種檢測(cè)條件，配合測(cè)試機(jī)可做 IV，CV,脈沖，高功率，擊穿電壓等等電性可靠性測(cè)試，支持多樣品同時(shí)測(cè)試 。
產(chǎn)品參數(shù)：
Chamber
| 腔室數(shù)量 | 4~12腔室可選（可定制） |
腔體尺寸 | 472mm(W)*495MM(D) | |
漏電+噪聲 | Pin noise+Leakage (Cable&Probe Card type for Probe unit) | |
顯微鏡
| 顯微鏡粗調(diào)X軸行程 | 2508mm (8 Chamber) |
顯微鏡微調(diào)XYZ軸行程 | 50mm*50mm*50mm | |
顯微鏡調(diào)焦 | 0.7~4.5X連續(xù)自動(dòng)變倍 | |
顯微鏡物鏡 | APO Plan 10X 20X | |
導(dǎo)軌 | XYZ 導(dǎo)軌 | THK高精度線性滑軌 |
光源 | 頂光源亮度 | White 100~200000 nit / 多波段光源 |
底光源亮度 | White 100~200000 nit / 多波段光源 | |
溫度系統(tǒng) | Hot&Cold Chuck | -30℃~130℃ |
| 氣浮式減振 | |
| 底座 | 大理石平臺(tái) | |
Probe | 探針座 | X-Y-Z行程 |
Probe type | Probe Card /RF Probe/ Kelvin Probe/I-V Probe | |
可測(cè)試類型 | I-V,C-V,R,RF,脈沖，頻率， 擊穿電壓等 | |
操作軟件 | CD-P | |
系統(tǒng)保護(hù) | 腔室?guī)О踩雷o(hù)鎖，防止測(cè)試被干擾，保證測(cè)試人員安全 | |
供電電源 | 220V土10% 50/60Hz | |
